Technische Merkmale des automatischen Pegel LEICA NA2 verwendet

Referenz:240-S0100
Die Standardabweichung für 1 km Doppelnivellement:0, 7 mm
Mit parallelen Plattenmikrometer:0, 3 mm
Erhöhen Sie das Teleskop:Direkte reelles Bild
Standard Auge:32x
Ø des Ziels:45 mm
Ø campo visual 100 m:2,2 m
Mindestabstand marksmanship:1,6 m
Multiplikative Konstante:100
Additive Konstante:0
Neigungsbereich des Kompensators:~ 30'
Genauigkeit (std est.):0,3"
Die kreisförmige Ebene Empfindlichkeit:8' / 2 mm
Glaskreis (K-Modell):400 gon (360)
Durchmesser Graduierung:70 mm
Graduation Intervall:1 gon (1 °)
Geschätzte Lesung:10 mgon (1)
Abdichtung gegen Wasser und Staub:IP53
Temperaturbereich für den Einsatz:-20 ° C a + 50 ° C
Lagertemperaturbereich:-40ºC a + 70 ° C
Ausgestattet mit:
Parallel-Plattenmikrometer:GPM3 mit Glasmaßstab
Stative Spiele:2

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Kontaktieren Sie uns und wir informieren Sie unverbindlich über diese LEICA NA2 automatischer Pegel Ausrüstung. Wenn Sie wünschen, können auch in Parets des Vallés (Barcelona) unsere Einrichtungen gelegen besuchen, wo wir alle Arten von neuen und gebrauchten Industriemaschinen haben: Bearbeitungszentren, Drehmaschinen konventionell, CNC-Drehmaschinen, Zylinder, Scheren etc.

Sie erreichen uns über:

cecamasa@cecamasa.com
+34 935 730 225

Folgende Maschine ist verfügbar, Irrtum und Zwischenverkauf vorbehalten.
Die Angabe der technische Daten sind ohne Gewährleistung und können ohne Vorankündigung geändert werden.

Informationen

Typ: Universal-Automatic Level

Marke: LEICA

Modell: NA2

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